CN119596111A 芯片测试的资源防呆方法及装置、芯片测试系统 （上海东软载波微电子有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119596111A

(43)申请公布日2025.03.11

(21)申请号202411787123.4

(22)申请日2024.12.05

(71)申请人上海东软载波微电子有限公司

地址200233上海市徐汇区古美路1515号

凤凰园12号楼3F

(72)发明人罗茗怡陈光胜娄锦兰孙国荣

(74)专利代理机构北京集佳知识产权代理有限

公司11227

专利代理师李慧慧

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

权利要求书2页说明书8页附图7页

(54)发明名称

芯片测试的资源防呆方法