GBT 46821-2025 嵌入式基板测试方法标准立项发展报告.docx

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嵌入式基板测试方法标准立项发展报告

EnglishTitle

StandardizationDevelopmentReport:TestMethodforEmbeddedSubstrate

摘要

关键词

嵌入式基板;测试方法;系统级封装;先进封装;电气性能;可靠性;标准化

Keywords:EmbeddedSubstrate;TestMethod;SysteminPackage(SiP);AdvancedPackaging;ElectricalPerformance;Reliability;Standardization

正文

一、标准研制背景与意

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