CN119725325A 测试结构及测试方法 （浙江创芯集成电路有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119725325A

(43)申请公布日2025.03.28

(21)申请号202411784879.3

(22)申请日2024.12.05

(71)申请人浙江创芯集成电路有限公司

地址311200浙江省杭州市萧山区宁围街

道平澜路2118号浙江大学杭州国际科

创中心水博园区11幢4层-5层（自主申

报）

(72)发明人黄江海王江红陶然

(74)专利代理机构北京集佳知识产权代理有限

公司11227

专利代理师李慧慧

(51)Int.Cl.

H01L23/544(2006.01)

H01L21/66(2006.01)