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半导体器件高温贮存.docx

半导体器件高温贮存.docx

    ICS31.080.01

    中华人民共和国国家标准

    GB/TXXXXX—XXXX/IEC60749-6:2017

    半导体器件机械和气候试验方法第6

    部分：高温贮存

    Semiconductordevices—Mechanicalandclimatictestmethods—Part

    6:Storageathightemperature

    （IEC60749-6:2017，IDT）

    （征求意见稿）

    （本草案完成时间：2026-07-20）

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    XXXX-XX-XX发布

    XXXX-

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