半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分:高温贮存.pdf

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ICS31.080.01

GB/TXXXXX—XXXX/IEC60749-6:2017

半导体器件机械和气候试验方法第6

部分:高温贮存

Semiconductordevices—Mechanicalandclimatictestmethods—Part

6:Storageathightemperature

(IEC6

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