光通信用硅基光电子芯片晶圆级测试方法标准研究报告.docx

SJ/T12074-2025光通信用硅基光电子芯片晶圆级测试方法标准发展报告

EnglishTitle:DevelopmentReportonStandardSJ/T12074-2025:Wafer-LevelTestMethodsforSilicon-BasedOptoelectronicChipsforOpticalCommunication

摘要

本报告系统阐述了SJ/T12074-2025《光通信用硅基光电子芯片晶圆级测试方法》标准的制定背景、核心内容及行业影响。随着全球数据通信流量的爆发式增长，硅基光电子技术凭借其与CMOS工艺兼容、高集成度及