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电子学特性测量

超导体在微波频率下的表面电阻

1范围

本文件规定了通过标准双谐振器法，测量超导体在微波频率下的表面电阻（R）。测试目标是在谐

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振频率下R随温度的变化。改进型镜像介质谐振器法，作为另外一种可选用的方法，在规范性附录C中

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给出。

本文件适用于表面电阻的测试范围如下：

——频率：8GHzf30GHz

——测试分辨率：0.01mΩ@10GHz

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测试报告给出在测试频率下的表面电阻值，并且给出利用R∝f的关系折合到10GHz的值。

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2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，

仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最