IEC TS 62607-6-26：2025 纳米制造 关键控制特性 第6-26部分石墨烯相关产品 断裂应变和应力、杨氏模量、残余应变和残余应力隆起试验标准立项发展报告.docx

纳米制造关键控制特性第6-26部分：石墨烯相关产品断裂应变和应力、杨氏模量、残余应变和残余应力：隆起试验标准立项发展报告

EnglishTitle

StandardizationDevelopmentReport:Nanomanufacturing-Keycontrolcharacteristics-Part6-26:Graphene-relatedproducts-Fracturestrainandstress,Young’smodulus,residualstrainandresidualstress:bulgetest

摘要

关键词

纳米制造；关键控制特性；石墨烯相关产品；断裂应变；断裂应力；杨氏模量；残余应变；残余应力；隆起试验；国际电工委员会；标准化

Keywords

Nanomanufacturing;Keycontrolcharacteristics;Graphene-relatedproducts;Fracturestrain;Fracturestress;Youngsmodulus;Residualstrain;Residualstress;Bulgetest;InternationalElectrotechnicalCommission;Standardiza