原创力文档标题：半导体器件机械和气候试验方法第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验方法标准立项发展报告
EnglishTitle：StandardizationDevelopmentReport:MechanicalandClimaticTestMethodsforSemiconductorDevices-Part44:TestMethodforNeutronIrradiationSingleEventEffects(SEE)ofSemiconductorDevices
摘要
随着航空航天、核能、高能物理等前沿领域对电子系统可靠性
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