SJ/T12009-2025集成电路蚀刻型引线框架标准发展报告
EnglishTitle:DevelopmentReportonStandardSJ/T12009-2025forIntegratedCircuitEtchedLeadframes
摘要
随着集成电路(IC)制造工艺向更小线宽、更高集成度方向演进,引线框架作为芯片封装的核心结构件,其性能直接决定封装的可靠性、散热效率及信号传输质量。蚀刻型引线框架凭借其高精度、细间距、复杂图形适应能力等优势,正逐步替代传统的冲压型产品,成为先进封装(如QFN、DFN、多排脚封装)的主流选择。然而,行业内长期存在产品规格不
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