YBT 6377-2025 金属材料截面试样的制备 聚焦离子束法标准立项发展报告.docx

金属材料截面试样的制备聚焦离子束法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:PreparationofCross-SectionalSpecimensforMetalMaterials-FocusedIonBeamMethod

摘要

随着材料科学与工程领域的快速发展，对金属材料微观组织结构与性能进行准确表征的需求日益迫切。聚焦离子束（FIB）技术作为一种高精度微纳加工与分析手段，已成为制备金属材料截面试样、揭示其内部结构、成分及缺陷特征的关键方法。然而，长期以来，国内该领域缺乏统一的技术标准，导致不同实验室、不同操作人员