CN120254599A 一种基于双参考轴阶次模式下总成下线nvh检测方法及系统 (智新科技股份有限公司).pdfVIP

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  • 2026-08-05 发布于重庆
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CN120254599A 一种基于双参考轴阶次模式下总成下线nvh检测方法及系统 (智新科技股份有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120254599A

(43)申请公布日2025.07.04

(21)申请号202510391491.5

(22)申请日2025.03.31

(71)申请人智新科技股份有限公司

地址430056湖北省武汉市经济技术开发

区沌阳大道339号一号厂房

(72)发明人肖琪程思王奔陈力强

段然然许一谦

(74)专利代理机构武汉开元知识产权代理有限

公司42104

专利代理师俞鸿彭成

(51)Int.Cl.

G01R31/34(2020.01)

G01R31/00(2006.01)

权利要求

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