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CN119205764A 用于igp处理单元的晶圆缺陷检测方法、系统及存储介质 （常熟理工学院）.pdfVIP

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  • 2026-08-07 发布于重庆
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CN119205764A 用于igp处理单元的晶圆缺陷检测方法、系统及存储介质 （常熟理工学院）.pdf

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119205764A

    (43)申请公布日2024.12.27

    (21)申请号202411709387.8G06V10/80(2022.01)

    G06V10/82(2022.01)

    (22)申请日2024.11.27

    G06V10/94(2022.01)

    (71)申请人常熟理工学院

    G06N3/045(2023.01)

    地址215500江苏省苏州市常熟市南三环

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