CN119623389A 一种针对芯片失效的后端分析方法 （北京卓芯半导体科技有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119623389A

(43)申请公布日2025.03.14

(21)申请号202411705241.6

(22)申请日2024.11.26

(71)申请人北京卓芯半导体科技有限公司

地址100070北京市丰台区五圈南路30号

院1号楼B座5层501

申请人北京微电子技术研究所

(72)发明人王传政马文哲王亮彭惠薪

(74)专利代理机构杭州君度专利代理事务所

(特殊普通合伙)33240

专利代理师朱月芬

(51)Int.Cl.

G06F30/367(2020.01)

G06F119/02(2020.01)