CN119203918A 一种避免在芯片设计中误判压差的检验方法 (博越微电子(江苏)有限公司).pdfVIP

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  • 2026-08-16 发布于重庆
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CN119203918A 一种避免在芯片设计中误判压差的检验方法 (博越微电子(江苏)有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119203918A

(43)申请公布日2024.12.27

(21)申请号202411662527.0

(22)申请日2024.11.20

(71)申请人博越微电子(江苏)有限公司

地址214000江苏省无锡市新吴区太湖国

际科技园软件园四期天鹅座C座709室

(72)发明人吴娟萍王洪鹏

(74)专利代理机构广州博联知识产权代理有限

公司44663

专利代理师梁志标

(51)Int.Cl.

G06F30/398(2020.01)

权利要求书2页说明书10页附图3页

(54)发明名称

一种避免在芯片设计中

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