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CN119471318A 一种芯片的测试方法 （广东芯成汉奇半导体技术有限公司）.pdfVIP

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  • 2026-08-17 发布于重庆
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CN119471318A 一种芯片的测试方法 （广东芯成汉奇半导体技术有限公司）.pdf

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119471318A

    (43)申请公布日2025.02.18

    (21)申请号202411679693.1

    (22)申请日2024.11.22

    (71)申请人广东芯成汉奇半导体技术有限公司

    地址523000广东省东莞市松山湖园区兴

    业路6号

    (72)发明人刘昆奇孙成思何瀚洪瑞斌

    韩磊

    (74)专利代理机构北京超凡宏宇知识产权代理

    有限公司11463

    专利代理师杨斌

    (51)Int.Cl.

    G01R31/28(2006.01)

    G01R1/067(2006.01)

    权利要求书2页说明

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