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- 2026-08-18 发布于河南
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ICMTIA
团体标准
T/ICMTIAXXXX—XXXX
超高阻硅单晶电阻率的测直流两探针法
DeterminationofResistivityofUltra-HighResistivitySiliconSingleCrystalsbyDC
Two-ProbeMethod
（征求意见稿）
在提交反馈意见时，请将您知道的相关专利连同支持性文件一并附上。
XXXX-XX-XX发布XXXX-XX-XX实施
中关村集成电路材料产业技术创新联盟 发布
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