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【芯片光谱测试系统的实现分析案例1100字】.pdf

【芯片光谱测试系统的实现分析案例1100字】.pdf

    芯片光谱测试系统的实现分析案例

    目录

    芯片光谱测试系统的实现分析案例1

    1.1实验平台的搭建1

    1.1.1实验所用器件1

    1.2入射光偏振态的测量4

    1.1实验平台的搭建

    本实验要通过最大的插入损耗及最大的不平衡性对90°光混频器的传输特

    性进行表征。因此要对光混频器的输入端光功率及各个输出端的光功率进行测量。

    实验的结构图如图8O

    图8

    1.1.

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