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CN119535161A 光电异质集成芯片的测试系统及测试方法 （武汉光谷信息光电子创新中心有限公司）.pdfVIP

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  • 2026-08-24 发布于重庆
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CN119535161A 光电异质集成芯片的测试系统及测试方法 （武汉光谷信息光电子创新中心有限公司）.pdf

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119535161A

    (43)申请公布日2025.02.28

    (21)申请号202411646917.9

    (22)申请日2024.11.18

    (71)申请人武汉光谷信息光电子创新中心有限

    公司

    地址430074湖北省武汉市东湖新技术开

    发区关山街邮科院路88号1幢1-3层

    (72)发明人冯朋高嘉卿周旭刘洁程庚

    范雨龙

    (74)专利代理机构北京派特恩知识产权代理有

    限公司11270

    专利代理师金云花蒋雅洁

    (51)Int.Cl.

    G01R31/28(2006.01)

    权利要求

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