IEC 60512-99-0022022AMD12025 修改件1 电气和电子设备用连接器 试验和测量 第99-002部分耐久性试验计划 试验99b电负载下的脱接试验计划标准立项发展报告.docxVIP

IEC60512-99-002:2022/AMD1:2025《修改件1电气和电子设备用连接器试验和测量第99-002部分：耐久性试验计划试验99b：电负载下的脱接试验计划》标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Amendment1-ConnectorsforElectricalandElectronicEquipment-TestsandMeasurements-Part99-002:EnduranceTestSchedules-Test99b:TestScheduleforUnmatingunderElectricalLoad

摘要

随着电气与电子设备向高功率密度、小型化和高可靠性方向持续演进，连接器在带载状态下进行插拔操作（即热插拔）的应用场景日益普遍，其对连接器触点的电弧侵蚀、材料迁移和绝缘性能退化等失效机理的影响已成为行业关注的核心问题。为适应这一技术发展需求，国际电工委员会（IEC）正式发布了IEC60512-99-002:2022/AMD1:2025《修改件1电气和电子设备用连接器试验和测量第99-002部分：耐久性试验计划试验99b：电负载下的脱接试验计划》。该修改件是在IEC60512-99-002:2022基础之上的重要技术更新，旨在进