基于单片机集成电路故障测试系统设计.pdfVIP

单片机控制的常用IC故障测试仪

AGeneralICChipsTroubleShootingSystemControlledby

Microcontroller

湖南邵阳师专系(422000)

【】介绍8031控制的常用IC测试原理和硬软件设计，本系统能完成对TTL74、54系列

和CMOS4000、4500系列的数字、部分ADC器件、部分DAC器件、部分运算放

大器等器件的测试。

：单片机，测试原理，引脚选择控制，测试口扩展

:Thetestprincipleofasysternoftroubletestingcontrolledby8031is

described,thesystemhardwareandsoftwaredesignsarealsogiven．Thesystemcan

test74，54seriesTIL,4000,4500seriesCMOS,someADC,someDACandsome

operationalamplifier.

Keywords:microcontrollr,testprinciple,pinssele