IEC 60749-22-12025 半导体器件 机械和气候试验方法 第22-1部分键合强度 引线键合拉力试验方法标准立项发展报告.docx

IEC 60749-22-12025 半导体器件 机械和气候试验方法 第22-1部分键合强度 引线键合拉力试验方法标准立项发展报告.docx

半导体器件机械和气候试验方法第22-1部分:键合强度引线键合拉力试验方法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:SemiconductorDevices-MechanicalandClimaticTestMethods-Part22-1:BondStrength-WireBondPullTestMethods

摘要

关键词:半导体器件;引线键合;拉力试验;机械试验;可靠性;IEC标准;键合强度

Keywords:Semiconductordevices;Wirebonding;Pulltes

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