半导体器件机械和气候试验方法第22-1部分:键合强度引线键合拉力试验方法标准立项发展报告
StandardizationDevelopmentReport:SemiconductorDevices-MechanicalandClimaticTestMethods-Part22-1:BondStrength-WireBondPullTestMethods
摘要
关键词:半导体器件;引线键合;拉力试验;机械试验;可靠性;IEC标准;键合强度
Keywords:Semiconductordevices;Wirebonding;Pulltes
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