IEC 62037-82025 RLV 无源射频和微波器件 互调电平测量.第8部分暴露于射频辐射的物体产生的无源互调的测量标准立项发展报告.docx

无源射频和微波器件互调电平测量第8部分：暴露于射频辐射的物体产生的无源互调的测量标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:PassiveRFandMicrowaveDevices,IntermodulationLevelMeasurement-Part8:MeasurementofPassiveIntermodulationGeneratedbyObjectsExposedtoRFRadiation

摘要

随着第五代移动通信（5G）、物联网及卫星通信技术的规模化部署，射频前端系统对无源互调（PIM）