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GB/T 42709.40-2026半导体器件　微电子机械器件　第40部分：MEMS惯性冲击开关阈值测试方法.pdf

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  • 2026-09-01 发布于四川
  • 正版发售
  • 即将实施
  • 暂未开始实施
  •   |  2026-07-30 颁布
  •   |  2027-02-01 实施

GB/T 42709.40-2026半导体器件　微电子机械器件　第40部分：MEMS惯性冲击开关阈值测试方法.pdf

    ICS31.200

    CCSL55

    中华人民共和国国家标准

    GB/T42709.40—2026/IEC62047⁃40：2021

    半导体器件微电子机械器件

    第40部分：MEMS惯性冲击开关阈值

    测试方法

    Semiconductordevices—Micro⁃electromechanicaldevices—

    Part40：TestmethodsofMEMSinertialshockswitchthreshold

    （IEC62047⁃40：2021，IDT）

    2026⁃07⁃30发布2027⁃02⁃01实施

    国家市场监督管理总局

    发布

    国家标准化管理委员会

    GB/T 42709.40-2026半导体器件　微电子机械器件　第40部分：MEMS惯性冲击开关阈值测试方法.pdf 原文免费试下载

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