CN119538830A 应用于电子工程中高Sigma场景的失效区域评估方法 (北京大学).pdfVIP

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  • 2026-09-04 发布于重庆
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CN119538830A 应用于电子工程中高Sigma场景的失效区域评估方法 (北京大学).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119538830A

(43)申请公布日2025.02.28

(21)申请号202411598645.X

(22)申请日2024.11.11

(71)申请人北京大学

地址100091北京市海淀区颐和园路5号

申请人北京大学南昌创新研究院

(72)发明人刘谋斌程平周游沈文豪

(74)专利代理机构淄博齐腾特知识产权代理事

务所(普通合伙)37408

专利代理师赵真真

(51)Int.Cl.

G06F30/367(2020.01)

G06F30/27(2020.01)

权利要求书2页说明书7页附图3页

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