精己二酸 第11部分：硅及金属含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 标准立项发展报告.docx

精己二酸第11部分：硅及金属含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:PurifiedAdipicAcid—Part11:DeterminationofSiliconandMetalContents—InductivelyCoupledPlasmaOpticalEmissionSpectrometry

摘要

精己二酸是聚酰胺（尼龙66）、聚氨酯、增塑剂及精细化工产品生产的关键基础原料，其纯度与微量杂质含量直接关系到下游高端材料的性能稳定性与安全性。随着我国化工产业向高端化、精细化方向转型升级，对精己二酸产品中硅（Si）及铁（Fe）、钴（Co）、镍（Ni）、钛（Ti）等金属杂质的精准控制已成为行业高质量发展的迫切需求。然而，现有行业标准中缺乏针对精己二酸基体中痕量金属元素统一、高效的测定方法，传统的前处理及分析手段在灵敏度、抗干扰能力和检测效率等方面存在明显局限。电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）作为当代无机元素分析的核心技术，具备多元素同时测定、检出限低、线性范围宽及基体耐受性强等突出优势，已广泛应用于高纯化学品质量检验领域，但目前尚缺乏针对精己二酸特定应用场景的行业标准支撑。本报告系统阐述了制定《精己二酸第11部分：硅及金属含量的测定电感耦合等离子