修改单1 半导体器件 第5-13部分：光电器件 LED封装硫化氢腐蚀试验 标准立项发展报告.docxVIP

修改单1半导体器件第5-13部分：光电器件LED封装硫化氢腐蚀试验标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Amendment1-Semiconductordevices-Part5-13:Optoelectronicdevices-HydrogensulphidecorrosiontestforLEDpackages

摘要：随着LED照明与显示产业对严酷环境适应性要求的持续提高，LED器件在含硫化氢工业大气环境下的腐蚀失效问题日益受到关注。IEC60747-5-13:2021《半导体器件——第5-13部分：光电器件——LED封装硫化氢腐蚀试验》为LED封装耐硫化氢腐蚀性能评价提供了统一的加速试验方法。为适应LED封装技术向小型化、高功率密度和多样化应用场景演进的需求，IEC/TC47启动了该标准的修改单编制工作，其修改单1于2026年1月20日起正式实施。本报告系统阐述了该修改单的立项背景、技术内容与产业需求，介绍了标准适用范围、试验原理与主要技术要素，重点分析了本次修订在试验严酷度分级、样品处理、光电性能测量、试验装置稳定性及安全防护等方面的完善情况，并剖析了其与IEC60068-2-43、GB/T2423系列标准的协调关系。在此基础上，报告介绍了主要参与单位中国电子技术标准化研究