GBT 47906-2026 300mm硅片表面纳米形貌的评价方法标准立项发展报告.docx

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StandardizationDevelopmentReport:EvaluationMethodforSurfaceNanotopographyof300mmSiliconWafers

300mm硅片表面纳米形貌的评价方法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:EvaluationMethodforSurfaceNanotopographyof300mmSiliconWafers

摘要

随着集成电路制程节点持续微缩至5nm及以下,300mm(12英寸)硅片表面纳米形貌对光刻工艺焦深余量、化学机械抛光(C

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