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·96·《测控技术~2017年第36卷第5期

通用自动化测试设备的接口设计

王文奇，曹建安，姜明明，程帅，王振兴

(1．西安西电电力系统有限公司，陕西西安710077；2．西安交通大学电气工程学院，陕西西安710049)

摘要：面向工业测试领域中不同类型和特征的被测试与激励信号，采用通用自动化测试设备．通过更换

不同的信号板卡，能满足测试与激励的多样性。针对PXI通用自动化测试平台，采用FPGA构建的测试

板卡，既能实现和PXI总线的通用接口，也能完成本地总线的控制和数据采集，形成一个通用的PXI板

卡设计模板。最后，基于该思想完成的离散量板卡和通信板卡设计，表明该通用设计方法具有可移植性

强、硬件复用容易等特点，进而极大地降低了设计强度和难度。

关键词：自动化测试设备；PXI总线；FPGA

中图分类号：TP27l文献标识码：A文章编号：1000—8829(2017)05—0096—04

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