CN119511030A 一种芯片寿命检测方法及寿命延长方法 (电子科技大学).pdfVIP

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  • 2026-09-12 发布于重庆
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CN119511030A 一种芯片寿命检测方法及寿命延长方法 (电子科技大学).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119511030A

(43)申请公布日2025.02.25

(21)申请号202411584861.9G06F18/15(2023.01)

G06F18/213(2023.01)

(22)申请日2024.11.07

G06F18/23(2023.01)

(71)申请人电子科技大学

G06F18/2433(2023.01)

地址611731四川省成都市高新区(西区)

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