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碳化硅单晶片厚度和平整度测试方法新旧标准差异对比解读.pptxVIP

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  • 2026-09-12 发布于广东
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碳化硅单晶片厚度和平整度测试方法新旧标准差异对比解读.pptx

    碳化硅单晶片厚度和平整度测试方法Testmethodforthicknessandflatnessofmonocrystallinesiliconcarbidewafers标准号：GB/T32278—2025适用：深圳/全国·学校/建工/检测/物业/化工/工地/各类培训机构培训单位：【企业名称】2025-08-01发布·2026-02-01实施

    课程目录01标准概况与代替关系02新旧标准主要技术变化03接触式测试方法04非接触式测试方法05精密度与试验报告06落地执行与培训小结

    01标准概况与代替关系标准号、归口、范围与代替的两项旧

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