IEC 63185：2025 平衡式圆盘谐振器法测量低损耗介质基片复介电常数标准立项发展报告.docxVIP

平衡式圆盘谐振器法测量低损耗介质基片复介电常数标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:MeasurementoftheComplexPermittivityforLow-LossDielectricSubstrates—Balanced-TypeCircularDiskResonatorMethod

摘要

随着5G/6G通信、毫米波雷达、卫星通信及高速数字电路等技术的快速发展，低损耗介质基片作为射频微波器件的关键基础材料，其复介电常数的精确测量已成为电子材料表征领域的核心课题。国际电工委员会（IEC）于2025年3月19日正式发布IEC63185:2025《平衡式圆盘谐振器法测量低损耗介质基片复介电常数》，该标准规定了采用平衡式圆盘谐振器法测量低损耗介质基片复介电常数的测试原理、装置要求、测试程序及数据处理方法。本标准适用于微波及毫米波频段低损耗介质基片的精确表征，为材料研发、器件设计及质量管控提供了统一的国际技术规范。本报告系统梳理了该标准的立项背景、技术内容、编制过程及应用价值，分析了国内外相关标准现状，并对未来发展趋势进行了展望，旨在为相关技术人员和行业管理人员提供参考。

关键词：平衡式圆盘谐振器；低损耗介质基片；复介电常数；IEC63185；标准化；微波测量；介质表征

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