IEC TS 62804-1：2025 光伏组件.潜在诱发退化检测的试验方法.第1部分晶体硅标准立项发展报告.docxVIP

光伏组件潜在诱发退化检测的试验方法第1部分：晶体硅标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Photovoltaic(PV)Modules—TestMethodsfortheDetectionofPotential-InducedDegradation—Part1:CrystallineSilicon

摘要

随着全球光伏发电装机容量的持续攀升，光伏组件的长期可靠性问题日益受到行业关注。潜在诱发退化（Potential-InducedDegradation,PID）是影响晶体硅光伏组件发电效率和使用寿命的关键失效模式之一，已成为光伏行业可靠性研究的热点问题。国际电工委员会（IEC）于2025年6月13日正式发布IECTS62804-1:2025《光伏组件——潜在诱发退化检测的试验方法——第1部分：晶体硅》，该标准作为技术规范（TechnicalSpecification），为晶体硅光伏组件PID效应的检测提供了统一、规范的试验方法和评价依据。本标准在前期版本的基础上进行了技术修订与完善，进一步优化了试验条件、测试程序和判定准则，以适应新型电池技术（如PERC、TOPCon、HJT等）和组件封装工艺的发展需求。本报告系统介绍了该标准的立项背景、编制过程、主要技术内容、修订要点及其行业应用价值，旨