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2026年高性能材料测试题目：材料结构与性能分析方法

材料结构与性能分析方法——2026年高性能材料测试题目

一、单选题（共10题，每题2分，计20分）

考察方向：基础概念、常用分析方法原理及适用范围

1.在X射线衍射（XRD）分析中，用于测定晶体结构参数的主要峰形参数是（）。

A.半峰宽（FWHM）

B.峰高

C.峰面积

D.衍射角

2.透射电子显微镜（TEM）观察材料微观结构时，为提高分辨率需采用（）。

A.加热样品至高温

B.使用场发射枪

C.增加样品厚度

D.使用暗场成像模式

3.拉伸试验中，描述材料塑性变形特征的指标是（）。

A.屈服强度

B.断裂应变

C.硬度

D.弹性模量

4.扫描电子显微镜（SEM）样品制备中，喷金的主要目的是（）。

A.增加导电性

B.增强荧光信号

C.防止氧化

D.改变样品形貌

5.原子力显微镜（AFM）的主要测量模式不包括（）。

A.模拟模式

B.扫描模式

C.拉曼模式

D.接触模式

6.动态力学分析（DMA）中，储能模量（E）主要反映（）。

A.材料的粘弹性

B.材料的强度

C.材料的密度

D.材料的导电性

7.热重分析（TGA）中，样品质量随温度变化的曲线主要用于分析（）。

A.材料的熔点

B.材料的玻璃化转变温度

C.材料的