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- 2026-09-23 发布于重庆
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(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN119165339A
(43)申请公布日2024.12.20
(21)申请号202411521819.2
(22)申请日2024.10.29
(71)申请人中国空间技术研究院
地址100094北京市海淀区友谊路104号
(72)发明人梅博吕贺张洪伟孙毅
薛玉雄曹荣幸张涛
(74)专利代理机构中国航天科技专利中心
11009
专利代理师葛颖琛
(51)Int.Cl.
G01R31/3185(2006.01)
权利要求书2页说明书5页附图4页
(54)发明名称
一种SiP器件的单粒子效应测试通用方
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