IEC 62037-8：2025 无源射频和微波器件 互调电平测量.第8部分暴露于射频辐射的物体产生的无源互调的测量标准立项发展报告.docxVIP

无源射频和微波器件互调电平测量第8部分：暴露于射频辐射的物体产生的无源互调的测量标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:PassiveRFandMicrowaveDevices,IntermodulationLevelMeasurement—Part8:MeasurementofPassiveIntermodulationGeneratedbyObjectsExposedtoRFRadiation

摘要

随着5G/6G移动通信、卫星通信及雷达系统的快速发展，射频前端集成度不断提高，发射功率持续增大，无源互调（PassiveIntermodulation,PIM）已成为制约通信系统性能的关键因素之一。除传统无源器件自身产生的PIM外，暴露于射频辐射环境中的外部物体（如金属结构件、建筑构件、天线罩、连接件等）所产生的无源互调同样不可忽视，其可能严重恶化接收机灵敏度，导致通信质量下降。国际电工委员会（IEC）于2025年3月正式发布IEC62037-8:2025标准，作为IEC62037系列的第8部分，专门针对暴露于射频辐射的物体产生的无源互调测量方法进行规范。该标准填补了外部PIM源测量领域的国际标准空白，为通信系统设计、站点建设及电磁兼容评估提供了统一的技术依据。本文系统梳理了该