GBZ 37664.3-2025 纳米制造　关键控制特性　发光纳米材料　第3部分：时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命标准立项发展报告.docxVIP

纳米制造关键控制特性发光纳米材料第3部分：时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命标准立项发展报告

EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReport:Nanomanufacturing—KeyControlCharacteristics—LuminescentNanomaterials—Part3:DeterminationofFluorescenceLifetimeofSemiconductorQuantumDotsUsingTime-CorrelatedSinglePhotonCounting

摘要

半导体量子点作为发光纳米材料的核心代表，因其量子尺寸效应带来的可调荧光发射波长、高量子产率和优异光稳定性，在显示技术、生物成像、光伏器件和量子信息等领域具有广阔应用前景。荧光寿命是表征量子点发光性能的关键控制特性之一，直接反映载流子复合动力学过程，对材料质量评估和器件性能优化具有决定性意义。时间相关单光子计数法（TCSPC）以其皮秒级时间分辨率和高灵敏度，成为测量半导体量子点荧光寿命最为可靠的技术手段。然而，在GB/Z37664.3-2025发布之前，国内尚缺乏针对该方法测量半导体量子点荧光寿命的统一技术规范，不同实验室间测量结果可比性不足，制约了产业协同发展。本标准作为GB/Z