CN119600252A 光学缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 （北京奥普托科微电子技术有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119600252A

(43)申请公布日2025.03.11

(21)申请号202411455459.0

(22)申请日2024.10.17

(71)申请人北京奥普托科微电子技术有限公司

地址100176北京市大兴区北京经济技术

开发区荣昌东街甲5号2号楼5层502-

B11

(72)发明人李东红蒋健君

(74)专利代理机构北京汇知杰知识产权代理有

限公司11587

专利代理师杨彦鸿

(51)Int.Cl.

G06V10/25(2022.01)

G06V10/26(2022.01)

G06V10/82(2022.01)

G06T