瞬态热阻测试仪校准规范标准立项发展报告
EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReport:CalibrationSpecificationforTransientThermalResistanceTesters
摘要
随着功率半导体器件、发光二极管(LED)及高密度集成电路向高功率密度、小型化方向快速发展,器件热特性测试与评价已成为保障产品质量与可靠性的关键环节。瞬态热阻测试仪作为基于电学瞬态测试原理的专用热特性测量仪器,广泛应用于半导体分立器件、集成电路封装、LED光源及电力电子模块等领域的热阻、瞬态热阻抗测量与封装结构缺陷分析
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