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2026年扫描电镜测试题及答案

一、填空题（每题2分，共20分）

1.扫描电镜（SEM）的工作原理主要基于______束与样品相互作用，通过收集二次电子、背散射电子等信号来成像。

2.在扫描电镜中，为了提高分辨率，通常采用______技术来增强样品表面的二次电子信号。

3.扫描电镜的样品室通常需要保持______环境，以减少电子束与空气分子的碰撞，提高成像质量。

4.二次电子探测器主要用于收集样品表面______的电子，因此对样品表面的______非常敏感。

5.背散射电子探测器主要用于收集样品表面______的电子，因此对样品的______有较高的敏感性。

6.扫描电镜中常用的样品制备方法包括______、______和______。

7.扫描电镜的分辨率主要受到______、______和______等因素的影响。

8.在扫描电镜中，通过调节______和______可以控制电子束的聚焦和扫描范围。

9.扫描电镜的样品台通常具有______、______和______等功能，以适应不同样品的观察需求。

10.扫描电镜的图像处理软件通常具有______、______和______等功能，以增强图像质量和进行分析。

二、判断题（每题2分，共20分）

1.扫描电镜的分辨率可以达到纳米级别。（对）

2.扫描电镜只能观察导电样品。（错）

3.二次电子探测器对