CN119473750A 一种内存模组自动化测试系统及方法 （成都紫光国芯电子有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119473750A

(43)申请公布日2025.02.18

(21)申请号202411475618.3

(22)申请日2024.10.22

(71)申请人成都紫光国芯电子有限公司

地址610041四川省成都市高新区蜀新大

道666号2号楼3层C2-2-3-001号

申请人西安紫光国芯半导体股份有限公司

(72)发明人陈刚向荣王龙张浩轩

陈德鑫王正文

(74)专利代理机构西安佩腾特知识产权代理事

务所(普通合伙)61226

专利代理师张倩

(51)Int.Cl.

G06F11/26(2006.01)

G06F11/273(2006.01)