AEC-Q可靠性试验计划.docx

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《AEC-Q系列可靠性试验计划(车规级半导体器件适用)》

文档版本号

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编制日期

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编制部门

__(批注:半导体可靠性验证部/车规产品研发中心)

编制人

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一级审核人

__(批注:研发总监/质量总监)

最终批准人

__(批注:公司分管技术高管)

标准适配

车规芯片全品类AEC认证验证流程

文档修订历史

版本号

修订日期

修订内容摘要

编制人

审批人

V1.0

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__(批注:如首次发布、更新HTOL试验应力条件、调整温循循环次数、补充客户专项要求等)

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V1.1

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V2.

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