CN118962413A 不完全pop封装芯片桥接路径通断量产测试方法及系统 (天津普智芯网络测控技术有限公司).pdfVIP

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  • 2026-10-19 发布于重庆
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CN118962413A 不完全pop封装芯片桥接路径通断量产测试方法及系统 (天津普智芯网络测控技术有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN118962413A

(43)申请公布日2024.11.15

(21)申请号202411455718.X

(22)申请日2024.10.18

(71)申请人天津普智芯网络测控技术有限公司

地址300450天津市滨海新区滨海高新区

华苑产业区海泰西路18号北2楼303

(72)发明人张大伟屈粮富姚文达马慧娟

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

G01R31/54(2020.01)

G01R1/04(2006.01)

权利要求书1页说明书4页附图1页

(54)发明名称

不完全pop封装芯片桥接路径通断量产测试

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