CN119445102A 一种基于锁相红外热波无损检测成像的自适应图像表面纹理消除方法 (华南师范大学).pdfVIP

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  • 2026-10-19 发布于重庆
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CN119445102A 一种基于锁相红外热波无损检测成像的自适应图像表面纹理消除方法 (华南师范大学).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119445102A

(43)申请公布日2025.02.14

(21)申请号202411466255.7G06V10/74(2022.01)

G06V10/98(2022.01)

(22)申请日2024.10.21

G06T7/00(2017.01)

(71)申请人华南师范大学

地址510635广东省广州市中山大道西55

号

(72)发明人吴立军欧伟杰朱千晟胡琳

闫满李洲冯伟豪董正

刘一鸣李强

(74)

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