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- 2026-10-21 发布于陕西
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Keysight8491A/B、8493A/B/C、
11581A、11582A和11583C
同轴衰减器
技术概述
–高精度精密的结构测试中的质量保证
–低驻波比(SWR)这些衰减器把衰减器卡上的薄膜作为电阻使用现代精密分析仪在整个频段内进行测
元件。薄膜沉积工艺的一致性和重复性可试,以保证衰减器在整个频率范围内的平
–宽带频率覆盖确保极宽频率范围的高精度和低驻波比。坦频率响应和低驻波比。全频段测试保证
了不会漏掉频段内的窄谐振。在直流、4、
–小体积8493C采用蓝宝石衬底上的氮化钽薄膜,8、12、18、26.5GHz处的实际衰减值贴在
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