IEC 61967-4：2021 集成电路电磁发射测量第4部分1欧姆150欧姆直接耦合法测量传导发射标准立项发展报告.docxVIP

IEC61967-4:2021《集成电路电磁发射测量第4部分：1Ω/150Ω直接耦合法测量传导发射》标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:IntegratedCircuits-MeasurementofElectromagneticEmissions-Part4:MeasurementofConductedEmissions-1Ohm/150OhmDirectCouplingMethod

摘要

随着集成电路向高集成度、高工作频率和低功耗方向持续演进，芯片级电磁兼容性问题日益突出，传导发射的准确测量成为制约电子产品电磁兼容性能提升的关键环节。IEC61967-4:2021《集成电路电磁发射测量第4部分：1Ω/150Ω直接耦合法测量传导发射》由国际电工委员会（IEC）于2021年3月16日正式发布，是集成电路电磁发射测量系列标准的重要组成部分。该标准规定了采用1Ω/150Ω直接耦合法的集成电路传导发射测量方法，涵盖测量原理、测试设备要求、试验配置、测量程序及结果表述等内容，为集成电路制造商和测试机构提供了统一的技术规范。本报告系统梳理了该标准的立项背景、技术演进、主要内容、应用价值及发展趋势，并结合我国集成电路产业发展现状，分析了该标准对国内电磁兼容标准体系建设的参考意义。研究表明，该标