IEC 62899-503-1：2020 印刷电子.第503-1部分质量评定.印刷薄膜晶体管位移电流测量的试验方法标准立项发展报告.docxVIP

印刷电子第503-1部分：质量评定——印刷薄膜晶体管位移电流测量的试验方法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:PrintedElectronics–Part503-1:QualityAssessment–TestMethodofDisplacementCurrentMeasurementforPrintedThin-FilmTransistor

摘要

印刷电子技术作为新一代电子制造技术的重要发展方向，凭借其低成本、大面积、柔性化等优势，在柔性显示、传感器、射频识别及可穿戴设备等领域展现出广阔的应用前景。印刷薄膜晶体管（PrintedThin-FilmTransistor,PTFT）作为印刷电子电路的核心器件，其质量评定与性能表征对产业化进程至关重要。然而，在IEC62899-503-1:2020发布之前，国际上缺乏统一的印刷薄膜晶体管位移电流测量试验方法标准，导致不同研究机构和企业之间的测试结果难以比较，制约了技术交流与产业协同发展。

本标准由国际电工委员会（IEC）于2020年5月27日正式发布，属于IEC62899系列标准第503-1部分，规定了印刷薄膜晶体管位移电流测量的试验方法，为器件质量评定提供了标准化的技术手段。本文档系统梳理了该标准的立项背景、编制过程、技术内容、应用