IEC 62899-503-3:2021 印刷电子.第503-3部分质量评定.印刷薄膜晶体管接触电阻的测量方法.传输长度法标准立项发展报告.docxVIP

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IEC 62899-503-3:2021 印刷电子.第503-3部分质量评定.印刷薄膜晶体管接触电阻的测量方法.传输长度法标准立项发展报告.docx

IEC62899-503-3:2021《印刷电子第503-3部分:质量评定印刷薄膜晶体管接触电阻的测量方法传输长度法》标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:PrintedElectronics-Part503-3:QualityAssessment-MeasuringMethodofContactResistanceforthePrintedThinFilmTransistor-TransferLengthMethod

摘要

印刷电子技术作为新一代电子制造技术的重要发展方向,凭借其低成本、大面积、柔性化等优势,在显示器件、传感器、射频识别标签及柔性集成电路等领域展现出广阔的应用前景。印刷薄膜晶体管(PrintedThinFilmTransistor,PTFT)是印刷电子产品中的核心元器件,其接触电阻直接影响器件的开关特性、载流子迁移率及整体性能稳定性。然而,在IEC62899-503-3:2021发布之前,国际范围内缺乏统一的印刷薄膜晶体管接触电阻测量方法标准,导致不同研究机构和企业之间的测试数据难以横向比较,严重制约了印刷电子产业的标准化和商业化进程。

IEC62899-503-3:2021由国际电工委员会(IEC)于2021年8月24日正式发布,属于IEC628

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