IEC TS 62804-1-1：2020 光伏组件.潜在诱发退化检测的试验方法.第1-1部分晶体硅.分层标准立项发展报告.docxVIP

IECTS62804-1-1:2020光伏组件潜在诱发退化检测试验方法——晶体硅分层标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Photovoltaic(PV)Modules–TestMethodsfortheDetectionofPotential-InducedDegradation–Part1-1:CrystallineSilicon–Delamination

摘要

光伏组件在长期户外运行过程中，潜在诱发退化（Potential-InducedDegradation,PID）是导致功率衰减和可靠性下降的关键因素之一。PID现象不仅表现为功率损失，还可能引发封装材料的物理退化，其中分层（Delamination）是晶体硅光伏组件在高压偏置条件下出现的重要失效模式。IECTS62804-1-1:2020由国际电工委员会（IEC）于2020年1月正式发布，作为IECTS62804系列技术规范的重要组成部分，专门针对晶体硅光伏组件中由潜在诱发退化引起的分层现象，规定了系统化的检测试验方法。该标准填补了PID相关分层检测方法在国际标准层面的空白，为光伏组件制造商、检测认证机构和终端用户提供了统一的技术评价依据。本文系统梳理了该标准的立项背景、编制过程、技术框架、核心试验方法及其实施意义，