CN119310428A 用于半导体器件的光电热特性的测试方法 （合肥机数量子科技有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119310428A

(43)申请公布日2025.01.14

(21)申请号202411447672.7

(22)申请日2024.10.16

(71)申请人合肥机数量子科技有限公司

地址230000安徽省合肥市高新区创新大

道与望江西路交口东北角中新网安大

厦11层1102-A009室

(72)发明人史修中孙强忠肖恒宇马杨

(74)专利代理机构合肥理慧知识产权代理事务

所(普通合伙)34324

专利代理师尹鑫

(51)Int.Cl.

G01R31/26(2020.01)

G01J1/00(2006.01)

G01N25/00(2006.01